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试剂药盖缺陷检测系统
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试剂药盖缺陷检测
各工位检测项
  HK-MVSYGFTD28A试剂药盖缺陷检测系统由我司自主研发,该系统集本公司在机器视觉工业检测领域多年技术积累,同时结合时下最新的用户特点及实际需求而推出。本产品使用深度学习算法,产品具有高效性,准确性,可扩展性强等优点,突破了传统算法限制。
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